Lista De Exerc Cios 05 Quest Es

Materiais Elétricos MR4420-NR5420
Lista de Exercícios – Estrutura Cristalina e Índices de Miller
Profª. Drª. Daniella Caluscio dos Santos
Difusão
1) P1-1°Sem 2013 Descreva como a temperatura influencia no processo difusivo de um material cristalino. Explique também o motivo da utilização do Alumínio nas interconexões dos circuitos integrados, ao invés, por exemplo, de utilizar Cobre.
500º𝐶
−21
500º𝐶
𝐷𝐴𝑙
𝑚²/𝑠; 𝐷𝐶𝑢→𝑆𝑖
= 4,0 × 10−13 𝑚²/𝑠
→𝑆𝑖 = 2,5 × 10
2) P1-2°Sem 2012 Como varia o número de lacunas com o aumento da temperatura ? Esboce um gráfico para explicar seu raciocínio.
Difração de Raios X
4) (2,0 pontos ) Após uma análise de Raios X utilizando fonte de raios X de Cu (n=1; λ=0,1547nm) foi obtido o difratograma apresentado abaixo:

(a)

(b)
(c)
(d)

Determine quais são os planos apresentados no diagrama.
5) Os planos de máxima densidade da Pt (175.10-12) são: (111); (200); (220); (311).
Esboce um difratograma de raios X (esquemático) da platina indicando os picos referentes aos planos cristalográficos dados acima.
Dados:
Fonte de raios X de Cu (n=1; λ=0,1547nm):
3) Um aluno realizando experimentos no laboratório obteve com resultados um difratograma de
Raios-X do Silício utilizando tubo de Cu (n=1; λ=1,5406Å). Na primeira folha do documento obtido estava o difratograma levantado, e na segunda folha estava descrita a tabela de padrão de difração, necessária para a análise dos resultados. Entretanto, por um descuido num dia chuvoso, o documento foi molhado e o difratograma, bem como alguns dados do padrão de difração se perderam. Restando a tabela abaixo.
2θ
d(Å)
I
(hkl)
28.4468
3.135000
100
(*)
47.2997
**
55
(220)
***
1.637600
30
(311)
Pede-se:
(a) (1,5 pontos) Os valores faltantes da tabela.
(b) (1,0 ponto) Um esboço do difratograma de raios X obtido neste ensaio.