Gestão do conhecimento

Programa de Pós-Graduação em Ciência e
Engenharia de Materiais

MICROSCOPIA ELETRÔNICA
PARA CARACTERIZAÇÃO
DE MATERIAIS
Microscopia Eletrônica de Varredura – MEV
Microscopia Eletrônica de Transmissão - MET

Profs: Ana Maria Maliska e Douglas Langie da Silva

MICROSCOPIA ELETRÔNICA
A caracterização de materiais é realizada principalmente pelo exame micrográfico.

Exame Micrográfico: correlaciona a microestrutura do material com as propriedades mecânicas, composição, processo de fabricação, etc.
- exame micrográfico com auxílio de microscópio ótico – identificação da microestrutura (granulação do material, fases presentes, inclusões, poros, etc.)
- exame micrográfico com auxílio de MEV e MET - identificação da microestrutura, análise da superfície, fratura, discordâncias, orientação cristalina.

FONTES
Radiação

Comprimento de onda, nm Elétrons

0,005

Raios-X

0,01-15

ultravioleta

15-400

Luz visível

400-700

Infravermelho

700-860

Microscopia ótica – usa normalmente a luz visível.

ESCALAS DE OBSERVAÇÃO
Escala
Ampliação típica
Técnicas

Macroestrutura x1 Mesoestrutura x102 Microestrutura x104 Nanoestrutura x106 Inspeção Visual

Microscopia ótica

MET e MEV

Difração de raios-X

Radiografia por raios-X Microscopia eletrônica de varredura Microscopia de força atômica

Microscopia de tunelamento Inspeção ultrasonica Aspectos característicos Defeitos
Porosidade,
trincas e inclusões

MET de alta resolução Grão e tamanho de partículas
Morfologia das fases e anisotropia Discordâncias
Grãos e contornos de fase
Fenômenos de precipitação Cristal e estrutura das interfaces
Defeitos pontuais

Microscopia Ótica
Objetivo
Observação e análise microestrutural de objetos sólidos

Características
• baixa resolução ~ 0,5 m (aumento máximo de 2.000X)
• imagem plana - sem profundidade de foco
• preparação especial da amostra (lixamento,