TESTABILIDADE DE CIRCUITOS DIGITAIS

TESTABILIDADE DE CIRCUITOS DIGITAIS

TESTABILIDADE DE CIRCUITOS DIGITAIS
CAPÍTULO 1: INTRODUÇÃO
DO LIVRO “AN INTRODUCTION TO LOGIC
CIRCUIT TESTING”

SUMÁRIO
• 1.1 Falhas em Circuitos Lógicos
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1.1.1 Falha de Stuck-at
1.1.2 Bridging Faults
1.1.3 Delay Faults

• 1.2 Breaks, stuck-open, stuck-on em CMOS
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1.2.1 Breaks
1.2.2 Stuck-on e Stuck-open

• 1.3 Conceitos Básicos na Detecção de Falhas
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1.3.1 Controlabilidade e Observabilidade
1.3.2 Falhas Indetectáveis
1.3.3 Falhas Equivalentes
1.3.4 Falhas Temporárias
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1.1 FALHAS EM CIRCUITOS LÓGICOS
• Falha em um circuito lógico ou sistema

• Erro em um circuito lógico ou sistema

• A manifestação de uma falha

• Uma falha nem sempre causa um erro
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1.1 FALHAS EM CIRCUITOS LÓGICOS
• Uma falha é caracterizada:

Natureza
2. Valor
3. Extensão
4. Duração
1.

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1.1 FALHAS EM CIRCUITOS LÓGICOS
• A natureza de uma falha pode ser classificada como não lógica ou lógica
• O valor de uma falha lógica num ponto do circuito indica se a falha cria valores lógicos errôneos fixos ou variáveis
• A extensão de uma falha especifica se o efeito da falha é localizada ou distribuída
• A duração de uma falha refere-se ao fato da falha ser permanente ou temporária
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1.1.1 FALHA DE STUCK-AT
• O modelo mais comum usado para falhas lógicas é o single Stuck-at fault
• Assume-se que uma falha é o resultado em uma porta lógica em sua entrada ou a saída sendo fixada em uma lógica 0 (stuck-at-0) ou uma lógica
1 (stuck-at-1)
• Falha Stuck-at-0 e Stuck-at-1 são muitas vezes abreviadas por s-a-0 e s-a-1

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1.1.1 FALHA DE STUCK-AT
• Exemplo:

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1.1.1 FALHA DE STUCK-AT
• O modelo stuck-at é muitas vezes referido como o modelo de falha clássico e oferece uma boa representação para os tipos mais comuns de defeitos • O modelo stuck-at também é usado para representar múltiplas falhas nos circuitos
• Uma variação da falha múltipla é uma falha