relatorio1

UNIVERSIDADE FEDERAL DE MINAS GERAIS
Departamento de Engenharia Mecânica
Prof.: Meinhard Sesselmann

METROLOGIA

Aula prática n° 1:
Calibração de Micrômetros

21 de setembro de 2007
1. Introdução O objetivo da primeira aula prática é Calibração de Micrômetro. Com esta finalidade é necessário entender os aspectos que influenciam um sistema de medição conhecendo, neste caso, os conceitos de calibração, curva de erro, tendência, repetitividade.

2. Teoria O sistema de medição deve ser calibrado quando se suspeitar que possa estar fora das condições normais de funcionamento ou vir a operar em condições adversas das especificadas pelo fabricante. A Calibração cria relações entre os valores indicados pelo instrumento e os valores das grandezas estabelecidos por padrões. Dessa forma, é possível obter a tendência em alguns pontos da faixa de medição do sistema de medição, possibilitando a sua correção e conseqüentemente melhoria da incerteza da medição. Todo sistema de medição apresenta erros e nosso objetivo é minimizá-los. O erro de medição em cada ponto amostral é igual à diferença entre os valores indicados pelo micrômetro e o valor verdadeiro convencional (valor do bloco padrão descrito no seu certificado de calibração). Esse erro consiste na soma do erro sistemático e do erro aleatório (considerando o erro grosseiro igual a zero). Visando atingir o objetivo inicial, é de fundamental importância conhecermos a estimativa do erro sistemático e a característica do erro aleatório. A estimativa do erro sistemático é denominada tendência (Td) e não é constante em toda a faixa em que o sistema de medição pode medir.
Td = MI – VVC O erro aleatório é expresso através da repetitividade (Re), sendo necessário para o cálculo da mesma o desvio padrão (s) e o fator de correção “t” de student.
Re = t. s (t para 95% de confiança) O erro máximo, parâmetro que descreve os limites máximos do erro de medição associado ao sistema de medição, indica