microscopio de força atomica

Castro França
Edna Fátima
Eugénio Uane
Joaquim Machombe
Palmira Baptista

Microscópio de força atómica

Cadeira de Mineralogia

Docente:
Dr. Fatima

Universidade Pedagógica
Curso de Geologia 1º ano
Beira, 2014

ÍNDICE

introdução 3
Microscópio de Força atómica 4
Modelagem do Microscópio de força atómica 6
Uso da AFM para visualização de Bacteriófagos filamentosos 8 conclusão 12 bibliografia 13

introdução
Os mais novos desenvolvimentos na área de microscopia são microscópios de varredura por sonda, ou SPM (Scanning Probe Microscope) que são na realidade, grupos de instrumentos compostos basicamente de sonda sensor, cerâmicas piezelétricas para posicionar o objeto amostra e para fazer a varredura, circuitos de realimentação para controlar a posição vertical da sonda e um computador para mover os scanners de varredura, armazenar dados e os converter em imagens por meio de softwares específicos para esse fim.
Há diversos tipos de microscópios de sonda, como o de tunelamento ou STM (Scanning Tunneling Microscope), o de força ou AFM (Atomic Force Microscope), o de campo próximo ou SNOM (Scanning Near-Field Optical Microscope), entre outros.
O STM foi inventado por Gerd Binnig e Heinrich Rohrer, em 1981 e foi o primeiro instrumento capaz de gerar imagens reais de superfícies com resolução atômica. Em 1986 seus inventores ganharam o Prêmio Nobel de Física.

Microscópio de Força atómica
A partir de uma modificação do microscópio de tunelamento, combinado com um profilômetro Stylus (aparelho para medir rugosidade em escala microscópica) Binnig, Quate e Gerber, desenvolveram o Microscópio de força atómica em 1986 como resultado de uma colaboração entre a IBM e a Universidade de Stanford, o que permitiu obter imagens reais, em três dimensões, da topografia das superfícies, com uma resolução espacial que se aproxima das dimensões atómicas, ou, seja o AFM( Microscópio de Força Atómica ) usa interação entre as forças