Experimento

Grupo 5: Alexandre Cesar Gomide Elvira Félix Machado Gabriela Faina Garcia Guilherme Gandia

1) A técnica de DRX (difração de raios X) consiste, simplificadamente, na incidência de raios X sobre um material cujos espaçamentos atômicos interplanares são de mesma ordem dos comprimentos de onda do raio X. Dessa maneira, a partir de diferentes ângulos de incidência, poderá verificar-se as posições em que ocorrem feixes difratados (um feixe composto por um grande número de ondas dispersas que se reforçam mutuamente). Uma vez realizada a difratometria de raios X e coletadas as informações, é possível então identificar o sólido cristalino em questão a partir de uma análise comparativa das posições angulares dos picos de difração. Outras utilidades são: orientações cristalográficas de monocristais; identificações químicas qualitativas e quantitativas; e a determinação de tensões residuais e de tamanhos de cristais.

2) RESPONDA a OU b...

a) Apresente o que é método de Rietveld, seus princípios básicos de funcionamento e suas aplicações.
Resposta: Método de Rietveld é um método de refinamento de estruturas cristalinas, que utiliza de dados de difração de raios X ou nêutrons, por pó. A estrutura é refinada de forma que o difratograma calculado a partir da amostra se aproxime o melhor possível do difratograma padrão, permitindo-se extrair informações da estrutura cristalina e informações analíticas dos materiais. É normalmente utilizado no estudo de materiais policristalinos. Existem vários programas que se utilizam do método de Rietveld para caracterização de materiais os quais facilitam tal processo.

Nos exercícios 3 e 4, considere o uso da radiação monocromática do cobre (0.1542 nm).

1) A figura 1 mostra o padrão de DRX para o chumbo. Calcule o espaçamento interplanar para quatro planos indexados, à sua escolha, Determine também o parâmetro de rede do chumbo para cada um desses picos.

Utilizando as equações 1 e 2, podemos calcular a distância