Microscopia de For a At mica

PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DE MINAS GERAIS
Curso de Engenharia Mecânica (com Ênfase em Mecatrônica)

Matheus Henrique de Oliveira Medeiros
Pedro Campos Miranda
Rafael Aguiar de Oliveira Salomão
Victor Resende Neves Ferreira
Tiago Pessotti

Microscopia de Força Atômica

Belo Horizonte
2015
Matheus Henrique de Oliveira Medeiros
Pedro Campos Miranda
Rafael Aguiar de Oliveira Salomão
Victor Resende Neves Ferreira
Tiago Pessotti

Microscopia de Força Atômica

Trabalho apresentado à disciplina Ciência dos Materiais, do Curso de Engenharia Mecânica (ênfase em mecatrônica) da Pontifícia Universidade Católica de Minas Gerais.

Professor(a): Sara Silva Ferreira de Dafe

Belo Horizonte
2015
Resumo
Lista de Ilustrações
Lista de Tabelas
Lista de Abreviaturas e Siglas
STM: Microscopio de efeito túnel
AFM ou SPM: Microscópio de Força Atômica
Sumário

Introdução

A microscopia de força atômica é uma técnica de análise que consiste na varredura da superfície de uma amostra com uma sonda (mais conhecida com ponteira) a fim de obter sua imagem topográfica com resolução atômica, além de mapear certas propriedades mecânicas e físico-químicas dos materiais que as compõe.
Antes deste método, existia a microscopia de efeito túnel (STM), que uma ferramenta útil na caracterização de superfícies de metais e semicondutores em escala atômica. Porém, a principal limitação deste método é a necessidade da condutividade da amostra, o que impossibilitava os testes em materiais isolantes. Para tal fim, utilizamos o microscópio de força atômica (AFM), desenvolvido em 1985 pelo Dr. Gerd Binnig et al. Ao desenvolver o aparelho, Binnig visava medir forças menores que 1μN entre a ponteira (tip) e a superfície da amostra.
Hoje as análises são feitas em áreas multidisciplinares como Física, Química, Biologia, Engenharia de Materiais, Eletrônica e Nanotecnologia. Essa variedade é possível, porque a técnica pode ser usada em amostras condutoras ou isolantes, magnéticas ou