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estrutura atômica da amostra, o feixe é difratado pelos seus átomos. Como resultado, as várias direções em que os raios-X emergem do material carregam diversas informações sobre a estrutura atômica do mesmo, que são de grande importância para sua completa caracterização. Esses dados podem ser extraídos e interpretados analisando-se os raios-X emergentes. Assim, pode-se, após algum trabalho, construir uma imagem da estrutura do cristal, com as posições de seus átomos.

Na difração múltipla, por sua vez, um único feixe de raios-X incidente produz simultaneamente mais de um feixe difratado. A difração múltipla é interessante por causa da sua grande sensibilidade – ela permite a detecção de pequenas distorções na rede cristalina do material. Além disso, fornece informações tridimensionais sobre as redes, inclusive sobre as possíveis interfaces presentes entre dois materiais ou entre duas regiões com diferentes estruturas cristalinas. Assim, o método é capaz de extrair informações simultâneas de duas ou mais regiões cristalinas dentro das amostras analisadas, o que geralmente não está disponível a partir de outras técnicas convencionais.

É interessante notar que as informações podem ser obtidas tanto no plano da superfície da amostra quanto nas interfaces entre diferentes partes da mesma, quando presentes. Por exemplo, é possível determinar a fase da estrutura analisada, permitindo distinguir entre uma estrutura e a sua “imagem” no espelho. Essa importante informação é perdida nas técnicas mais tradicionais de difração.

A parte principal dos estudos do grupo é feita na linha de luz XRD1 do Laboratório Nacional de Luz Síncrotron (LNLS), em Campinas, que foi adaptada para experiências de difração múltipla de raios-X. A razão do uso do LNLS é que a radiação síncrotron fornece raios X polarizados no plano, com alta intensidade, baixíssima divergência e sintonia adequada no comprimento