Tecnicas de caracterização

Universidade Federal do Rio Grande do Norte
Departamento de Engenharia de Materiais
Disciplina: Técnicas de Catacterização dos Materiais

Laboratório 1 – Difração de Raio-X (DRX)

Natal – RN
2014
Componente: Erika Hidemi Namba Alves

Laboratório 1 – Difratômetro de Raio-X

Orientador: Prof. Mauricio Bomio

Natal – RN
2014
INTRODUÇÃO:
Conhecer a estrutura cristalina e a microestrutura de um material para poder entender suas propriedades é fundamental para um engenheiro de materiais. Uma das técnicas de análise estrutural e microestrutural mais empregada para identificar os diferentes tipos de materiais é a difração de raios-x (DRX). Este equipamento é de caráter não destrutivo na qual permite a análise qualitativa do material, bem como a determinação dos parâmetros de rede, medidas de tensões residuais e outras possíveis aplicações.
Os raios-X são formas de radiação eletromagnética que possuem elevadas energias e curtos comprimentos de onda, na faixa de 0,05nm a 0,25nm. Os raios X por ser uma onda, sofre o fenômeno de difração. A difração consiste em um desvio ou espalhamento sofrido pela onda quando esta contorna ou transpõe obstáculos da mesma ordem de grandeza de comprimento de onda. Como nas estruturas cristalinas o espaçamento dos átomos é da mesma ordem de grandeza do comprimento de onda do raio X, o mesmo sofre difração ao passar pela rede cristalina de um material.
Mudanças de direção causada pela difração podem gerar interferências do tipo construtiva ou destrutiva, dependendo do ângulo em que os raios X vão incidir sobre os planos cristalinos do material, a distância entre os mesmos e o comprimento de onda da radiação incidente.
Considerando-se dois ou mais planos de uma estrutura cristalina, as condições para que ocorra a difração de raio X é expressada pela lei de