Sistemas de Medição

4
O Sistema de Medição
Fundamentos da Metrologia
Científica e Industrial

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MCI

4.1
Métodos básicos de medição

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Método da comparação


O valor do mensurando é determinado comparando-o com um artefato cujo valor de referência é muito bem conhecido.
0

medidas materializadas Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 4/42)

Definição


Medida materializada:




Dispositivo destinado a reproduzir ou fornecer, de maneira permanente durante seu uso, um ou mais valores conhecidos de uma dada grandeza.
São exemplos: massas-padrão; resistor elétrico padrão; um bloco-padrão; um material de referência.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 5/42)

Método da indicação


Mostram um número proporcional ao valor do mesurando.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 6/42)

Medição diferencial


A pequena diferença entre o mensurando e uma medida materializada é indicada.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 7/42)

Medição diferencial relógio comparador

0
0
d

coluna

d peça padrão

padrão

peça

base
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 8/42)

Medição diferencial mediçã o

zerage m Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 9/42)

Análise comparativa característica velocidade de medição facilidade de automação estabilidade com tempo custo indicação muito rápido muito fácil instável moderado a elevado comparação muito lento muito difícil muito estável elevado diferencial rápido muito fácil muito estável moderado muito usada na indústria
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 10/42)

4.2
Módulos básicos de um sistema de medição

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Módulos básicos de um SM sistema de medição transdutor transdutor e/ou e/ou sensor sensor

unidade unidadede de