Microscopia eletronica varrimento

A principal funo de qualquer microscpio tornar visvel ao olho humano o que for muito pequeno para tal. A forma mais antiga e usual a lupa seguida do microscpio ptico, que ilumina o objeto com luz visvel ou luz ultravioleta. O limite mximo de resoluo dos microscpios pticos estabelecido pelos efeitos de difrao devido ao comprimento de onda da radiao incidente. Os microscpios pticos convencionais ficam, ento, limitados a um aumento mximo de 2000 vezes, porque acima deste valor, detalhes menores so imperceptveis. Para aumentar a resoluo pode-se utilizar uma radiao com comprimento de onda menor que a luz visvel como fonte de iluminao do objeto. Alm disso, a profundidade de campo inversamente proporcional aos aumentos, sendo necessrio, ento, um polimento perfeito da superfcie a ser observada, o que s vezes incompatvel com a observao desejada (KESRENBACHK, 1994). Um microscpio eletrnico de varredura (MEV) utiliza um feixe de eltrons no lugar de ftons utilizados em um microscpio ptico convencional, o que permite solucionar o problema de resoluo relacionado com a fonte de luz branca. Desenho esquemtico para comparao entre microscpio ptico e microscpio eletrnico de varredura Como resultado tem-se que os aparelhos modernos permitem aumentos de 300.000 vezes ou mais, para a maior parte de materiais slidos, conservando a profundidade de campo compatvel com a observao de superfcies rugosas. O MEV um aparelho que pode fornecer rapidamente informaes sobre a morfologia e identificao de elementos qumicos de uma amostra slida. Sua utilizao comum em biologia, odontologia, farmcia, engenharia, qumica, metalurgia, fsica, medicina e geologia. O MEV um dos mais versteis instrumentos disponveis para a observao e anlise de caractersticas microestruturais de objetos slidos. A principal razo de sua utilidade a alta resoluo que pode ser obtida quando as amostras so observadas valores da ordem de 2 a 5 nanmetros so geralmente apresentados por instrumentos