espectofotometria por emissão optica

Espectrometria de Emissão
Óptica com Plasma
Indutivamente acoplado ICP-OES

Introdução
• No início dos anos 60, dois grupos de pesquisadores, utilizaram pela primeira vez uma fonte de plasma com acoplamento indutivo (ICP) para fins analíticos.
• Ao longo de uma década, a nova técnica tornou-se gradativamente atraente quando, em
1975, foi introduzido no mercado o primeiro espectrômetro de emissão ótica com fonte de plasma induzido (ICP-OES).
• A técnica vem sendo utilizada no Brasil desde
1976, quando foram instalados os primeiros equipamentos comerciais.

Introdução
• Um plasma pode ser definido como uma nuvem de gás parcialmente ionizado e com elevada temperatura (entre
6000 e 10000°C).

• O argônio, se ioniza em um campo elétrico forte por uma corrente direta ou por radiofreqüência. Introdução
Vantagens
• Técnica multielementar (pode determinar até
72 elementos ao mesmo tempo)
• Faixa linear de trabalho dos ICP-OES é usualmente de 0,1 a 1000ppm.
• Apresenta maior sensibilidade, principalmente para elementos nos quais falham os métodos de absorção atômica (Be,
B, P, Ge, Nb, Sn, La, Hf, W e U).

ICP-OES Perkin Elmer Optima
5300/7300 DV

Válvula de RF com detector de estado sólido

Bomba
Peristáltica

Detector

Sistema de introdução de
Amostras

Princípio de funcionamento Princípio de funcionamento

Princípio de funcionamento Princípio de funcionamento Princípio de funcionamento

Princípio de funcionamento
Luz emitida pela ionização da amostra Conversão de fótons incidentes em sinal elétrico (CCD)
Sistema de detecção simultânea multielementar Círculo de Rowland utiliza-se de um arranjo onde vários CCD’s são utilizados para fazer a determinação simultânea em uma determinada faixa de comprimento de onda

Sistema de detecção Perkin Elmer
5300/7300 DV

Princípio de funcionamento

Princípio de funcionamento
Sistema Dual View de leitura (DV)

Sistemática de