Difratômetria de Raios-X

Difratmetros Os difratmetros de raios X, so equipamentos de anlise no destrutiva as quais permitem a anlise qualitativa do material, bem como a determinao dos parmetros de rede, medidas de tenses residuais e outras possveis aplicaes. Por meio de anlise quantitativa, possvel atravs do clculo das reas dos picos. Alm disso, outros tipos de anlises so inclusos como tamanho de partcula ou cristalinidade. Quando se fala em raios-x, a primeira aplicao que vem mente da maioria das pessoas a radiografia, processo que usa os raios-x para visualizar o interior de objetos (ou de pessoas) ao coloca-los entre uma fonte de raios-x e uma chapa fotogrfica. De fato, essa a mais comum das aplicaes desse tipo de radiao e a primeira a ser utilizada desde a descoberta desses raios. Porm, devido ao fenmeno da difrao de raios-x, possvel estudar materiais a nvel atmico, descobrindo e estudando sua estrutura. Difratmetria de Raios-X uma tcnica de anlise usada para determinar a estrutura da matria. Esta tcnica tem uma correlao ntima com a estrutura da matria, quando as substncias so expostas ao feixe sofrem diferentes tipos de interao. Histrico A descoberta dos Raios-X se deu a partir de experimentos com os tubos catdicos, equipamentos exaustivamente utilizados em experimentos no final do sculo XIX que consistiam em um tubo de vidro, ligado a uma bomba de vcuo, onde era aplicada uma diferena de potencial entre dois terminais opostos, gerando uma corrente eltrica dentro do tubo. No final do sculo XIX, foi estabelecido que os raios provenientes do ctodo eram absorvidos pela matria e que a sua absoro era inversamente relacionada com a voltagem de acelerao. E mais incidindo essa radiao em alguns cristais, era provocada a emisso de luz visvel, chamada fluorescncia. Em 1896, Thomson demonstrou que os raios provindos do ctodo eram compostos por pequenas partculas carregadas negativamente, tendo massa aproximadamente igual a 1/1800 do menor tomo, o Hidrognio. Essa partcula passou a ser