Relação entre a TIB e o projeto: Como ampliar a cobertura de verificação metrológica no Brasil – sistemática, ferramentas e metodologia para o Inmetro e Órgãos Delegados.

524 palavras 3 páginas
Curso Mestrado Profissional 2012
Tecnologia Industrial Básica (TIB)

Relação entre a TIB e o projeto: Como ampliar a cobertura de verificação metrológica no Brasil – sistemática, ferramentas e metodologia para o Inmetro e Órgãos Delegados.

O programa de Tecnologia Industrial Básica envolve a Metrologia, Normalização Técnica, Avaliação da Conformidade - e demais funções conexas tais como Tecnologias de Gestão, Propriedade Intelectual e Design.

No entanto, uma breve reflexão sobre cada um dos tópicos suscita questões críticas.

A Metrologia, Normalização e Avaliação da Conformidade compreendem uma cadeia de funções tecnológicas interdependentes. A eventual disponibilidade de uma das funções tem pouco efeito para o mercado se as demais estiverem insuficientemente organizadas.

Desta forma, é necessário o aparelhamento da infra-estrutura de serviços, em número e abrangência, que permita ao setor produtivo brasileiro o enfrentamento e superação das barreiras técnicas ao comércio, nos setores mais expostos à competição e nos de maior impacto social.

Cumpre mencionar que o âmbito da metrologia, em especial a metrologia legal - que inclui a verificação dos instrumentos de medição existentes no país - interessa sobremodo tanto ao Governo quanto ao setor privado pelo que representa de amadurecimento das relações econômicas e comerciais tanto no mercado interno quanto no externo. Além de ser e fundamental no que diz respeito à defesa legítima do mercado e defesa da concorrência bem como as questões ligadas à saúde, segurança e meio ambiente.

Nesta direção, apoiar a Rede Brasileira de Metrologia Legal e Qualidade - RBMLQ, órgãos delegados do Inmetro na execução da atividade de campo de verificação de instrumentos é fundamental.

Atualmente, o planejamento da RBMLQ visando o quantitativo de instrumento de medição a serem verificados no período futuro baseia-se no histórico de instrumentos de medição verificados em períodos anteriores, ou seja, no

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