relatorio drx

UNIVERSIDADE FEDERAL DO RIO GRANDE DO NORTE
DEMAT – DEPARTAMENTO DE ENGENHARIA DE MATERIAIS
TECNICAS DE CARACTERIZAÇÃO DOS MATERIAIS DOSCENTE MAURICIO BOMIO
DISCENTE KENNEDY FLAVIO DE SOUA SILVA

RELATÓRIO
CARACTERIZAÇÃO PELO METODO DE DIFRAÇÃO DE RAIOS X

AGOSTO 2014
NATAL RN

RESUMO Hoje a técnica de difração de raios-x , se mostra como uma das mais eficientes técnicas para caracterização de materiais, esta nos permite desde identificar elementos presentes em algum composto (solido cristalino ou semicristalino) à identificar estruturas cristalográficas inclusive mostrar planos da rede cristalina onde há a maior densidade atômica.
No princípio tentou-se realizar a difração em um anteparo de chumbo com um orifício central, no entanto nada ocorreu, então chegou-se a conclusão que como o raio X apresentava um comprimento de onda muito pequeno seria muito difícil construir um obstáculo artificial. Foi a partir daí que começou a se usar os cristais para realizar a difração dos raios X (raios Röntgen).
Graças ao processo de difração foi possível determinar o comprimento de onda do raio X e concluiu-se que era menor que o comprimento de onda do raio ultravioleta e da mesma ordem que o tamanho do átomo.
O primeiro físico a usar os cristais como rede de difração para o raio-x foi Max Von Laue e por isso ganhou o prêmio nobel em 1914.(Wikipédia 2014)

1. INTRODUÇÃO

Entende-se por raios-x, a região do espectro eletromagnético com comprimentos de ondas no intervalo aproximado de 1nm a 1000 nm. A compreensão da interação desta radiação com a matéria trouxe grandes avanços no desenvolvimento da ciência e tecnologia. Fótons deste intervalo de comprimentos de onda são utilizados para analisar estruturas desde a escala atômica até dimensões de galáxias.

Os raios-x foram descobertos por Röntgen em 1895. As propriedades interessantes como propagação em