Microscopia

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Microscopia Eletrônica
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Microscopia eletrônica é uma importante técnica para determinar tamanho e forma de estruturas cristalinas e amorfas; inorgânicas e biológicas. No caso de amostras cristalinas, também pode revelar a composição das partículas. De qualquer forma, a microscopia eletrônica baseia-se na interação de elétrons incidentes sobre a matéria. Muitos são os efeitos desta interação e ocomprimento de onda do elétron, variando entre 0,1 e 1nm, fornece informações de resolução atômica que são utilizadas não apenas pela microscopia eletrônica, mas por diversas técnicas analíticas.
* O elétron pode passar pela amostra sem sofrer perda de energia. Este é o elétron transmitido;
* Pode ocorrer difração dos elétrons com específica orientação em relação ao feixe primário, possibilitandoa obtenção de informações cristalográficas;
* Os elétrons podem colidir com átomos da amostra e serem refletidos, fenômeno que se torna mais significativo quanto maior a massa atômica;
* Raios-X e elétrons Auger são formados quando o átomo ionizado perde energia. Esta é a base das análises da espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios X - XPS e espectroscopia de elétron Auger;* A interação do elétron com a matéria permite o estudo da perda de energia do feixe primário, que está relacionada com a amostra em questão;
* Muitos elétrons perdem energia em uma sequência de colisões inelásticas. Estes são chamados elétrons secundários;
* A emissão de fótons de energia variando do ultravioleta ao infravermelho denomina-se catodoluminescência e é resultado derecombinações eletrônicas. Tais interações fornecem dados sobre a morfologia, cristalografia e composição química da amostra.
A microscopia eletrônica de transmissão (TEM) emprega os feixes transmitidos e difratados, ao passo que a microscopia eletrônica de varredura (SEM) detecta os elétrons secundários e os elétrons refletidos em função da posição do feixe primário.
Microscopia eletrônica de transmissãoAs interações pertinentes à microscopia eletrônica de transmissão geram imagens ou figuras de difração e estes modos são facilmente intercambiáveis. As imagens são de campo claro, campo escuro ou de alta resolução e cada modo fornece informações diferenciadas da amostra.
O equipamento tem o formato de uma alta coluna e seus componentes são descritos a seguir:
* Fonte de iluminação: O canhãode elétrons gera o feixe primário que é acelerado para adquirir a energia necessária.
* Lentes condensadoras: Um conjunto de diferentes lentes eletromagnéticas e aberturas permitem a análise de um feixe paralelo empregado em TEM ou a análise de um feixe convergente utilizado na microscopia de transmissão e varredura (STEM).
* Plano de amostra: Posiciona a amostra, em forma de lâmina,...
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