Difração em microscopia - EBSD
1472 palavras
6 páginas
Álvaro Pereira JúniorCamila Cristine Lopes
Mario Sergio Mourão
Paulo Celio Telles Junior
Prof.: Marco antônio da Cunha
Introdução
As microestruturas determinam muitas das propriedades de interesse para os materiais e sua formação depende
fundamentalmente
da
composição
química
e
do
processamento. A microscopia eletrônica de varredura tem o papel
de
microestruturais
extrema
e
importância
identificação
de
para
fases,
análise
segregações
químicas associadas a interfaces e defeitos de estrutura.
Arquitetura do MEV
Materiais anisotrópicos e textura • Os materiais de engenharia não são perfeitamente isotrópicos. As
propriedades físicas dependem da orientação/direção onde elas são determinadas,
anisotrópico.
característico
de
um
comportamento
Nos transformadores a textura dos grãos orientados no aço
elétrico
com
alto
silício
(GOSS
steel)
é aplicada
na
laminação para reduzir a perdas. A textura GOSS aumenta
30% a densidade de fluxo magnético das chapas usadas nos núcleos dos transformadores.
Difração de elétron retroespalhados (EBSD)
A
técnica
de
EBSD
(em
inglês
“Electron
BackScatter
Diffraction” ou difração de elétrons retroespalhados) permite a análise
cristalográfica
de
um
material,
ou
seja,
a
determinação da orientação cristalina pontualmente ou em áreas específicas, medidas para desajuste angular, tamanho
de
grão,
textura,
grau
de
deformação/recristalização,
identificação e distribuição de fase (mapas), transformações alotrópicas, etc…
Componentes do EBSD
Tela fluorescente (revela padrão das linhas de Kikuchi)
Sensor CCD (charge coupled device – Dispositivo carga
aplicada)
Controlador de posicionamento/movimento
Controle eletrônico e comunicação entre MEV/EBSD
Amplificador e processador de sinais
Software para interpretação das